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OPTIPRO是一個功能強大的用于光學參數測定的光譜測量系統，可測量Mueller矩陣。它是包括光源和筆記本電腦的簡易而緊湊的系統，便攜易用。而且可與LCD MASTER配合工作，使測量數據轉移到LCD模擬和仿真軟件“LCD MASTER”中來研究整個光學系統的性能。此外，它的分析速度非常快，分析儀的測量時間小于30毫秒；操作的靈活性強，系統配置可以簡單地改變或增加必要的零件，從而以最小的投入而使其功能得以很好地擴展。

主要特色：

•高速——分析儀的測量時間小于30毫秒

•靈活性——獨立的光源，偏光片，樣品臺和分析儀，系統配置可以簡單地改變或增加必要的零件，該功能可以以最小的投入而被擴展。

•與LCD MASTER 集成——測量數據可以轉移到我們的LCD模擬和仿真軟件“LCD MASTER”來研究整個光學系統的性能，包括正在測試的樣品。

基本規格：

測量參數：

Retardation（Δnd）
•光軸方位
•偏振轉換特征(Stokes參數)
•LC 單元的預傾斜和扭轉角
以及：
•XY工作臺的二維分布
•θ－Φ工作臺的角度分布
•溫度控制平臺

OPTIPRO的應用:
•光學薄膜分析：開發，品質認證（QC）
•LC透鏡
•WV或NLC專用薄膜分析
•圖像配置層的開發
•LC元參數分析： TN, VA, IPS, OCB, ECB等
•多區域LC單元分析，PSVA或Photo配置：Pre-tilt, cell gap, twist angle, rubbing direction angle.
•生物材料開發：旋光（Optical rotation）

 
測量原理：
•分析儀旋轉方法

OPTIPRO種類：