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       掃描物鏡可用三個光學特性來表示，即相對孔徑、放大率和共軛距。放大率是 承接光學設計項目 掃描物鏡的一個重要指標，由于一般物體大小是固定的，故放大率愈小，意味著鏡頭的像面愈小，焦距也就愈短，相對來講掃描系統結構可以做的更小，但同時要求鏡頭的解像力也愈高。共軛距是指物像之間的長度，對鏡頭來講，一般希望其愈長愈好，共軛距愈短，意味著鏡頭愈難設計(視場角增大)。其原理圖同照相物鏡一樣，是一個縮小的過程。

      掃描物鏡的設計特點：

      1．掃描物鏡屬于小孔徑小象差系統，要求的光學解像力較高。 
      2．由于光電器件的原因，不僅要校正白光(混合光)的象差，同時需要考慮R、 G、B 三種獨立波長的象差。 
      3．嚴格校正畸變象差。