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4月18日，記者從中國科學院西安光機所獲悉：該所超快光科學與技術全國重點實驗室研究員姚保利團隊在大視場雙光子散射顯微成像領域取得新進展，提出一種針對深層組織顯微成像的大視場波前校正方法——基于圖像的干涉焦點感應波前校正方法。該方法可應用于高速共振掃描雙光子顯微鏡，為腦科學、發育生物學等領域提供增強顯微成像工具。

團隊成員、西安光機所正高級實驗師楊延龍介紹，在生物醫學成像領域特別是深層組織成像中，樣品的散射和系統的像差會嚴重降低圖像質量并限制成像深度。自適應光學（AO）技術可以提高成像質量，但是在強散射樣品的全視場校正方面仍受到很大限制。

“以實驗室小鼠腦神經活動觀察為例，普通雙光子顯微鏡可以觀察到數百微米的深度，單對更深層的組織成像就需要借助波前校正的方法克服樣品的散射。”楊延龍說，“我們提出的基于圖像的干涉焦點感應波前校正方法，可利用全視場圖像信息評估參數作為干涉焦點感應方法的輸入，讓校正范圍更廣、成像能力更強。”

團隊利用小鼠腦神經切片樣品進行了散射校正實驗，驗證了新方法比傳統方法具有更好的全局優化效果。校正后的圖像總強度增強倍數比傳統方法高37%，實現了更穩定的大視場校正。

該研究受到國家自然科學基金委員會國家重大科研儀器研制、國家重點研發計劃、陜西省重點產業鏈等項目支持，研究成果發表于光學類國際知名期刊《納米光子學》。

近年來，姚保利團隊在利用超短脈沖激光的顯微成像領域、基于光場調控的光學顯微成像和光學微操縱方面開展了長期理論和實驗研究工作，在行業頂級期刊發表論文300余篇，獲多項國家發明專利授權。