PI獨特的并行梯度搜索技術
該算法以對準系統微米級甚至納米級的探索性運動為基礎，可測量品質因數的局部梯度，例如相機鏡頭系統的圖像質量或激光器的輸出功率。然后自動遵循該梯度，直至達到所需的元件位置和方向。該程序提供出色的跟蹤功能，因此可以補償任何漂移效應。PI獨特的方法可以使多個梯度搜索程序并行進行。這意味著可以同步進行多個元件、自由度、通道等的優化。這一開創性功能可以將整體優化時間縮短兩個或更多個數量級。
梯度搜索可以在不到1秒的時間內找到信號最大值。
同時調整多個單一元件
在復雜的光學系統中對準單個透鏡元件是一項具有挑戰性且耗時的任務。然而，借助于PI獨特的內置于控制器固件中的算法以及同樣獨特的機械調整單元，可在單一操作中并行對準多個透鏡。
PI –自動多通道光纖陣列對準
將光纖（單?；蚨嗄９饫w）連接到硅光子器件(SiP)仍然是這些器件的測試與封裝中具挑戰性和復雜性的任務之一。
基于其獨特的“快速多通道光子學對準”系統，PI成功開發了一種用于晶圓探測的高吞吐量自動化子系統。該視頻現在展示了實現芯片級測試和封裝自動化的方法。
SiP生產快速光學校準
PI快速硅光對準FMPA技術可用于大多數的工序優化
· 激光腔調節
· 攝像頭組裝
· 無人駕駛的激光傳感器
· 光纜
· 硅光子 (SiP)
-芯片檢測
-芯片封裝
· 量子計算
轉載請注明出處。
相關文章
熱門資訊
精彩導讀
關注我們
